技术工艺
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　　3.2.1 旁路二极管热性能试验
　　按照IEC 61215 10.18.3的要求进行测试试验，以下是测试某一组件旁路二极管热性能试验过程：先测试该组件的电性能，确定Isc为5.53A,并测试二极管的管压降；前期工作准备完毕后，将组件放入温度为75℃±5℃的腔室内进行加温，并同时通以等于标准测试条件下短路电流±2%的电流；1小时后测试每个二极管的表面温度，再利用下列方程计算二极管的测试最大结温：
　　
　　二极管结温测试后，再增加通以组件电流到标准测试条件下短路电流1.25倍，同时保持组件的温度在75℃±5℃，保持通过组件电流1h，验证二极管仍能工作，表3是测试过程部分数据记录：
　　　　　　　　表3旁路二极管热性能试验测试数据

　  Diode 1 　Diode 2 　Diode 3
    通以标称短路电流Isc［A］     5.53     5.53     5.53
    Voltage drop ［V］ 压降［V］     0.16     0.17     0.16
    功耗［W］     0.8848     0.9401     0.8848
    二极管表面最高温度［℃］     99.2     101.4     100.5
结温与外壳温度关联因子RTHJC［K/W］     3     3     3
    计算出最大结温 Tj ［℃］     101.85     1.4.22     103.15
    Tj<Tjmax(供应商所提供最大结温) 通过？失败？     通过     通过     通过
    通以（1.25*Isc）［A］     6.91     6.91     6.91
    二极管是否正常工作     是     是     是

 

　　此块组件的二极管结温测试结果是比较理想的，且通完1.25倍的标准测试条件下短路电流1小时后，二极管仍能继续工作。
　　制作组件时层压温度一般设定为150℃左右，如果二极管结温测试超过170℃，那可就要当心了，若再加上接线盒的散热性能不好，后果那是相当严重的，比如会造成组件材料的封装退化、加速老化等其他不良现象，组件可能会较早或加速失效，虽然它并没有超过200℃。
　　为了避免或减低组件在户外使用的时候出现接线盒烧毁、组件烧灼的现象（如图3所示），就必须要关注此项测试，结温测试结果要尽可能的低。
　　　　　　　　
　　　　　　　　　　　　图3 接线盒烧毁
　　3.2.2 接线盒体电阻测试

　　如图4所示，我们模拟组件中的连接方式，将2 根同规格汇流条分别插接在接线盒两边的卡接口，并将公母头短接，用低电阻测试仪测试汇流条两端电阻。接线盒的实际电阻，为测试电阻减去2 根汇流条电阻的差值。这个电阻主要与3 部分有关：接触电阻、线阻及内部金属电阻；