需要特别指出的是，冷热循环实验需要对芯片的温度和通电时间进行精确的控制，然而事实上芯片的温度很难监控得到，特别是在通大电流的情况下，如图2所示，芯片封装到陶瓷-金属复合板上，陶瓷-金属复合板又安装在散热板上，通常只能检测到环测箱和散热板的温度。图3所示是太阳电池接收器（芯片尺寸10x10mm2）在通不同电流时，环测箱温度（oven）、散热器温度（heat sink）和电池芯片温度（cell）的差异，由图可见，在通有7A电流（约对应于500倍聚光下该电池产生的短路电流的1.25倍），太阳电池芯片实际温度高于环测箱温度约20℃.
　　表1 聚光太阳电池热循环测试条件选项

图1 热循环测试的温度和电流示意图（非等比例）

图2 太阳电池接收器的冷热循环实验示意图