选用TCA-1热循环条件，芯片温度最高-45℃~85℃，分别在最高温度及最低温度处停留10分钟，一个循环大约需要78分钟；每个温度周期内，在温度>25℃时，周期性施加1.25*Isc（7A）的电流10次。表2为部分接收器在经过超过1000个热循环后的老化前后电性对比，电性测试使用脉冲聚光太阳模拟器，由于实验时间跨度时间较长，考虑到不同时间测试仪器本身的误差，本实验选取标准片作为监控，测试仪测量误差±5%。试验表明，聚光太阳电池芯片在经过1000个循环后电性总体衰减不明显，但划伤半导体及芯片大面积暗区的样品，其电性衰减较大；实验过程中，接收器出现绝缘胶裂开、DBC从铝板脱落、导线表皮收缩等，都是由于温度高于材料其本身所以承受的最高温度导致。
表-2 部分接收器在经过超过1000个热循环后的老化前后电性对比
芯片编号 |
老化前功率W |
老化后功率W |
衰减 |
热循环次数 |
SR2G09L0103750-（暗区） |
15.8322 |
16.1500 |
2.01% |
222~1051cycles |
SR2G09L0103797（暗区） |
15.2770 |
14.8761 |
-2.62% |
222~1051cycles |
SR2G09J0103682（划伤） |
16.4755 |
16.2063 |
-1.63% |
222~1051cycles |
SR2G09J0202191（划伤） |
16.2367 |
16.4158 |
1.10% |
222~1051cycles |
SR2G09L0203211（暗区） |
15.5062 |
14.3636 |
-7.37% |
222~1051cycles |
SR2G09K0203591（暗斑） |
15.3127 |
15.4853 |
1.13% |
222~1051cycles |
SR2G09L0203131（暗区） |
15.2887 |
15.5980 |
2.02% |
222~1051cycles |
SR2G09J0103700（轻划伤） |
15.9272 |
16.0047 |
0.49% |
222~1051cycles |
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