2.5 其他因素

　　组件工作时，光照加热和电流发热会导致组件温度比环境温度高几十度，引起组件输出功率下降。目前，行业内对晶硅太阳电池组件工作时的升温问题没有太多解决办法。像聚光电池组件那样，借助外部设备进行风冷或水冷的方式，则由于成本原因而无法在晶硅电池组件上应用。

　　电池片和组件 I-V 测试时的误差，大多与测试设备的性能、尤其是模拟光源的质量有关。我们推荐使用AAA级光源模拟器。

　　组件生产过程中的焊接和层压两道工序，容易造成电池片碎片或者隐裂，导致组件功率下降。本文暂不讨论此类因素。

3、实验结果及讨论

3.1 实验平台

　　我们选用的电池片为公司生产线上按普通 p 型工艺正常生产的准方 S125 和S156 电池片，且同次实验使用同一批次同一档次的电池片。组件制作采用国内常用的手工生产线，焊带、汇流

条、接线盒等辅料为行业内广泛使用的某几个厂家的产品。电池片 I-V 测试使用 Berger 测试台，组件 I-V 测试使用博硕或众森的测试台。焊带和汇流条的电阻测量使用扬子仪器的 YD2512 型直流低电阻测试仪。玻璃、EVA的透光率以及电池片、单片组件的QE测试使用 PV Measurements 公司的 Solar Cell Spectral Response Measurement System。

3.2 失配损耗

3.1.1 分线包装

　　某公司目前以效率档间隔对电池片进行分档，而同档电池片在不同电池片 I-V 测试台上的测试曲线并不完全一致。这样，将来自不同测试台的同档电池片封装在同一块组件中时，就有可能出现失配损耗。但我们对 17.75%，18.00%，18.25% 三个效率档的电池片进行混线封装和分线封装的对比，都没有发现分线封装能降低功率损失 (表1)。

表1 分线包装对功率损失的影响

3.1.2 Eff和Iap分档对比
　　我们比较17.75%效率档的 S156电池片按效率Eff 和工作电流Iap分档对组件封装功率损失的影响。如表2所示，胺Iap分档的B组功率损失为-3.97%，并未比按Eff分档的A组有明显改善。

表2 按Eff和Iap分档对功率损失的影响

3.1.3 同效率档电池片按Iap细分

　　同档电池片的 I-V 曲线不完全一致，导致其工作电流 Iap也不同。在更进一步的实验中，我们对同效率档电池片再按工作电流Iap细分。我们选取一批17.25%效率档的准方S125电池片，一半作为比较组A直接封装成组件，另一半作为