图3 正面焊带的电阻

　　在点焊或者焊接不良出现“虚焊”的情形下，栅线收集的电流到达非焊接区域时，将只能沿电阻较高的丝印银电极传导，增加了功率损耗。

2.3.2 汇流条的有效电阻

　　组件中的各串电池片通过汇流条连接。电流在流经汇流条时也会有焦耳发热，产生功率损耗。以我司生产的 S156-3BB 的 60 片板型组件为例，电流由 3 根焊带均匀收集。这样，图 4(b)中的 A、B、C 3 段汇流条上的电流就有区别。此外，组件正常工作时的电流不会通过旁路

二极管，图 4(a) 中的 D 段汇流条上也不会有电流通过。由此可见，汇流条的功率损耗由 9 部分组成：其中，1 段和 9 段、2 段和 8 段分别相同，3、4、5、6、7 也相同。假设组件的峰值电流为 Impp，汇流条的线电阻为ρl，则汇流条的功率损耗为，

(a) 组件头部（靠近接线盒一侧）

(b) 组件尾部（远离接线盒一侧）
图4 组件内汇流条的走线图（长度单位mm）

2.4 光致衰减

　　上世纪 70年代, H. Fischer和 W. Pschunder 等人首次详细报导到了掺硼 p 型 Cz 硅太阳电池的光致衰减 (Light Induced Degradation, LID) 现象[9]。图 5 显示了 1Ω· cm 掺硼 Cz 硅太阳电池在光照后的衰减和 200℃退火处理的恢复情况，可以看出：光照使电池的电性能不断衰减, 最后达到某个稳定值；退火处理又使电池性能得到恢复。一般认为，光照或载流子注入会导致硅片中的替位硼和间隙氧形成硼氧复合中心[10,11]。这些复合中心影响了少数载流子的寿命，进而引起电池转换效率下降。但经过退火处理，硼氧复合中心又会分解，电池性能得到恢复。

图5 掺硼Cz 硅太阳电池的光致衰减