电阻。接线盒的实际电阻，为测试电阻减去 2 根汇流条电阻的差值。这个电阻主要与 3 部分有关：汇流条与接线盒铜排的接触电阻、铜排的电阻和导线的电阻。

图10 测试接线盒的电阻

　　我们选取一块 S156 的 18.00% 效率档 60 片板型的层压件，直接连接汇流条的引出线测试电性能。然后再加装 3种接线盒 A、B、C，作封装组件测试对比。如表10所示，C 接线盒的电阻比 A 和 B 的接线盒分别低了5.1mΩ.与2.6mΩ，功率对应提升了0.48W 和0.22W。S156 电池片 18.00% 档的峰值电流 Impp 约

为 8.2A。按 Ploss = I2R 估算，这些接线盒消耗的功率应小于1W。但我们的实测值却都偏大。我们的进一步研究发现，组件I- V 测试台上的转接线也影响了结果。

表10 使用不同接线盒的测试功率对比

3.4.4 测试台转接线的影响

　　如图11所示，测试台可以用鳄鱼夹直接连接层压件的汇流条引出线。但组件加装接线盒后，鳄鱼夹则无法有效地连接接线盒的公母头。组件工厂里一般会用接线盒上连有公母头的导线作为转接线（图11(b)）。

(a) 加装接线盒前

(b) 加装接线盒后
图11 测试组件I-V 性能时的连线示意图

　　我们在实验室的组件 I-V 测试台的测试线上另加了一段电阻约为60mΩ 的线缆，并定义原有的连接方式为“短线”，加长后的连接方式为“长线”。按 3种方式进行测试比较：短线校准后短线测试、短线校准后长线测试、长线校准后长线测试。表  比较了 1 块组件在不同测试方式下的 I-V 数据。“短线校准后短线测试”模式可看做理想情形下无任何附加电阻。如果校准时没有引入附加的导线电阻，而只是在测试时引入，Rs 和 FF 都会有明显的变化：Rs 增加了 80mΩ，FF 从 75.72% 降低到了 74.15%。实际生产中的情形则与“长线校准后长线测试”更为接近：即导线电阻一直存在，同时影响校准和测试。这种模式下，不仅 Rs 和 FF 有变化，Voc 和 Isc 也都有明显的升高。另外，我们注意到，在“短线校准后长线测试”和“长线校准后长线测试”两种情形下，由于测试时的连接方式一致，组件的Rs 和FF 都没有明显改变。组件工